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簡(jiǎn)要描述：Edison功率模塊動(dòng)態(tài)特性測(cè)試系統(tǒng)，主要用于不同封裝功率模塊的動(dòng)態(tài)參數(shù)特性測(cè)試，可兼顧電控單元以及To247單管的動(dòng)態(tài)測(cè)試。可以同時(shí)完成單脈沖、雙脈沖以及短路測(cè)試等用戶測(cè)試條目。 Edison支持用戶進(jìn)行遠(yuǎn)程測(cè)試（需配VPN軟件及設(shè)備聯(lián)網(wǎng)），并可實(shí)時(shí)保存測(cè)試結(jié)果及波形數(shù)據(jù)。幫助客戶快速評(píng)估器件性能，更快應(yīng)對(duì)市場(chǎng)需求改善產(chǎn)品性能。避坑指南：如何正確選擇功率器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)開(kāi)放免費(fèi)測(cè)試名額：泰克半導(dǎo)體開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室
產(chǎn)品型號(hào)：廠商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2025-06-03訪 問(wèn) 量：1703產(chǎn)品分類CLASSIFICATION
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詳細(xì)介紹
*測(cè)不準(zhǔn)——碳化硅SiC動(dòng)態(tài)特性導(dǎo)致di/dt加快，電流采樣方案需要具備納秒級(jí)的解析度，否則測(cè)不準(zhǔn)器件的動(dòng)態(tài)特性
*測(cè)不全——碳化硅SiC高速開(kāi)關(guān)，測(cè)試回路雜感高會(huì)帶來(lái)的電壓尖峰，在器件工作電壓范圍內(nèi)測(cè)不全
*可靠性差——測(cè)試驅(qū)動(dòng)電路需要具備的抗EMI力，否則易損壞被測(cè)器件，導(dǎo)致設(shè)備可靠性差
Edison功率模塊動(dòng)態(tài)特性測(cè)試系統(tǒng)可沉著應(yīng)對(duì)SiC動(dòng)態(tài)特性差異帶來(lái)的測(cè)試難點(diǎn)。創(chuàng)新性層疊母排和電容結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，測(cè)試主回路雜感低至 6nH（Performance版）。高速、高頻、高可靠、高共模瞬變抗擾度（CMTI）使SiC驅(qū)動(dòng)器性能業(yè)界。使用泰克公司推出的新五系高分辨率示波器和專門用于高壓差分信號(hào)測(cè)試的光隔離探頭，為三代半導(dǎo)體器件動(dòng)態(tài)特性表征帶來(lái)更高帶寬和更高測(cè)試精度。
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